![](/Design/King-Tin/images/zhutui1_1/zhutui1_1_00.jpg)
![](/Design/King-Tin/images/zhutui1-2-circle2.png)
![](/Design/King-Tin/images/zhutui1-2.jpg)
測試主機(jī)
GaN Test Kit
Power Device Test Kit
QT-8400 由測試主機(jī)與測試站 Test Kit 組成,
其中 Test Kit 分為兩種:Power Device Test Kit & GaN Test Kit。
![](/Design/King-Tin/images/zhutui3a_1.png)
![](/Design/King-Tin/images/zhutui3a_2.png)
-
Power Device Test Kit
面向 MOSFET/SIC、二極管、三極管等 CP 測試需求的 Power Device Test Kit.
-
GaN Test Kit
面向氮化鎵測試需求的 GaN Test Kit.
站坐快速切換
用戶體驗(yàn)
* 已申請(qǐng)專利
站坐快速切換
用戶體驗(yàn)
* 已申請(qǐng)專利
![](/Design/King-Tin/images/zhutui1-6.jpg)
![](/Design/King-Tin/images/zhutui1-7.jpg)
QT-8400 GaN |
QT-8400 D |
測試范圍專用于氮化鎵動(dòng)靜態(tài)電參數(shù)測試 |
測試范圍專用于 MOSFET/SIC 、二極管、三極管、IGBT等 CP測試。 |
參數(shù)指標(biāo)
懸浮 V/I 源 |
參數(shù)指標(biāo)
懸浮 V/I 源 |
并行測試數(shù)2/4/8/16 Site |
并行測試數(shù)2/4/8/16 Site |
可擴(kuò)展動(dòng)態(tài)模組
LCR測試模組(CG) |
可擴(kuò)展動(dòng)態(tài)模組
雪崩測試模組(UIS、EAS) |
可擴(kuò)展高壓/直流模組最高可擴(kuò)展8KV, 2KA |
可擴(kuò)展高壓/直流模組最高可擴(kuò)展8KV, 2KA |
精準(zhǔn)測量GaN Test Kit內(nèi)置精密測量電路,實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測量。 |
精準(zhǔn)測量Power Device Test Kit內(nèi)置精密測量電路,實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測量。 |
![](/Design/King-Tin/images/zhutui1-10.jpg)
內(nèi)置示波器圖
AWG編輯器
專為測試&生產(chǎn)而設(shè)計(jì)
![](/Design/King-Tin/images/zhutui1-12-1.png)
![](/Design/King-Tin/images/zhutui1-12-2.png)
![](/Design/King-Tin/images/zhutui1-12-3.png)
* 已申請(qǐng)專利
![](/Design/King-Tin/images/bottom-code.jpg)
![](/Design/King-Tin/images/bottom-code.jpg)
![](/Design/King-Tin/images/bottom-code.jpg)