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          QT-8400 功率器件多Site測(cè)試系統(tǒng)
          探索第三代半導(dǎo)體的無(wú)限可能

          測(cè)試主機(jī)

          GaN Test Kit

          Power Device Test Kit

          QT-8400 由測(cè)試主機(jī)與測(cè)試站 Test Kit 組成,
          其中 Test Kit 分為兩種:Power Device Test Kit & GaN Test Kit。

          Test Kit
          可根據(jù)需求進(jìn)行選擇
          • Power Device Test Kit

            面向 MOSFET/SIC、二極管、三極管等 CP 測(cè)試需求的 Power Device Test Kit.

          • GaN Test Kit

            面向氮化鎵測(cè)試需求的 GaN Test Kit.

          105cm
          站姿鍵盤高度
          75cm
          坐姿鍵盤高度
          創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
          站坐快速切換
          觸動(dòng)人心的
          用戶體驗(yàn)
          8400機(jī)箱從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠等不同環(huán)境場(chǎng)所,滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求,我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線,能讓用戶快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤高度,也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào),極大提升了操作舒適性和效率。

          * 已申請(qǐng)專利

          創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
          站坐快速切換
          觸動(dòng)人心的
          用戶體驗(yàn)
          8400機(jī)箱從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠等不同環(huán)境場(chǎng)所,滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求,我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線,能讓用戶快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤高度,也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào),極大提升了操作舒適性和效率。

          * 已申請(qǐng)專利

          105cm
          站姿鍵盤高度
          75cm
          坐姿鍵盤高度
          并行測(cè)試,效率倍增
          支持 2/4/8/16 Site并行測(cè)試,滿足客戶對(duì)更高測(cè)試效率的需求。
          測(cè)試需求,全方位覆蓋
          QT-8400 整機(jī)提供 20A/100A、1KV/2KV 的多site并測(cè)方案,支持?jǐn)U展高壓/直流模組,最高可達(dá) 8KV, 2000A,支持?jǐn)U展雪崩、RGCG,動(dòng)態(tài) RDson 等動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試模組,滿足第三代半導(dǎo)體的測(cè)試需求。

          QT-8400 GaN

          QT-8400 D

          測(cè)試范圍

          專用于氮化鎵動(dòng)靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試

          測(cè)試范圍

          專用于 MOSFET/SIC 、二極管、三極管、IGBT等 CP測(cè)試。

          參數(shù)指標(biāo)

          懸浮 V/I 源
          電壓 1KV/2KV
          20A/100A;

          參數(shù)指標(biāo)

          懸浮 V/I 源
          電壓1KV/2KV/3KV
          20A/100A/200A

          并行測(cè)試數(shù)

          2/4/8/16 Site

          并行測(cè)試數(shù)

          2/4/8/16 Site

          可擴(kuò)展動(dòng)態(tài)模組

          LCR測(cè)試模組(CG)
          動(dòng)態(tài) RDSON 模組(支持硬切和軟切)

          可擴(kuò)展動(dòng)態(tài)模組

          雪崩測(cè)試模組(UIS、EAS)
          LCR測(cè)試模組(RG、CG)

          可擴(kuò)展高壓/直流模組

          最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

          可擴(kuò)展高壓/直流模組

          最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

          精準(zhǔn)測(cè)量

          GaN Test Kit內(nèi)置精密測(cè)量電路,實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。

          精準(zhǔn)測(cè)量

          Power Device Test Kit內(nèi)置精密測(cè)量電路,實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。

          板卡資源靈活搭配
          我們的設(shè)備采用可插拔式板卡架構(gòu),允許您根據(jù)需求靈活搭配板卡,從而實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)把控測(cè)試成本。
          功能全面,滿足各類需求
          測(cè)試主機(jī)板卡均為四象限V/I源,配備AWG和示波器,功能全面,滿足如 I-V 曲線等各類掃描測(cè)試需求。

          內(nèi)置示波器圖

          AWG編輯器
          PTS OS 直觀易用,
          專為測(cè)試&生產(chǎn)而設(shè)計(jì)
          我們對(duì) QT-8400 PTS OS 軟件界面全面優(yōu)化,以提升實(shí)用性、美觀性和易用性。極大提高測(cè)試開發(fā)、生產(chǎn)以及調(diào)試校準(zhǔn)效率,使用戶輕松上手高效操作。

          * 已申請(qǐng)專利

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